コア問題 業務分類 大項目 小項目 サンプル問題 アプリ対応 メモリ NAND型/NOR型 マスクROM SDRAM DDR SDRAM QDR SDRAM メモリ素子 高速I/F インタフェース・デバイス、高速シリアル転送 LVDS (Low Voltage Differential Signaling) シリアルインタフェース 電源 電源（リニア、スイッチング選択） 車載 車載用半導体、機能安全規格 FPGA FPGA, プログラマブルデバイス イメージャ バーコードリーダー、カメラ、X線カメラ(CCD)、サーモイメージャ ノイズ対応 パワー・インテグリティ ノイズ（EMI対策） シグナル・インテグリティ 熱対応 熱（冷却方式） データシート 論理機能 絶対最大定格 推奨動作条件 DC電気的特性 スイッチング特性 位相、最大出力電圧、入力換算雑音電圧 SOA、絶対最大定格、2次降伏、MOSFET、バイポーラトランジスタ SOA、絶対最大定格、2次降伏、ディレーティング、パルス SOA、絶対最大定格、2次降伏、オン抵抗、VDS SN比 信号対雑音比（量子化） ノイズ対策 ガードリング デカップリングコンデンサ、バイパスコンデンサ テスト メモリテスト セル間干渉 フェイルビットマップ 消去不良 書き込み不良 メモリBIST メモリBISR（自己修復） メモリBIRA（冗長解析） スキャンテスト ローンチオンキャプチャ(LoC) ローンチオンシフト(LoS) 1サイクルスキャンテスト スキャンテスト問題 (PDEA／解説なし） 2サイクルスキャンテスト バウンダリスキャンによるテスト スキャンベースロジックBIST TSVテスト TSVテスト TSVテスト問題 (PDEA／解説なし） 診断故障解析 故障シミュレーションを利用した診断 故障辞書 故障辞書問題（PDEA／解説付き） 故障診断アルゴリズム テスト手法 コンカレントテスト IDDQテスト 自己発振試験 テスト手法問題 （PDEA／解説なし） ソフトウェアベースセルフテスト アダプティブテスト 接続試験 周波数測定 高速I/Fテスト BER アイパターンとジッタ アナログテスト 信号対雑音比(SNR) 全高調波歪率(THD) 線形性テスト AD変換器動特性問題（PDEA／解説付き） ゲインテスト オフセットテスト AD変換器テスト FFT法 ミスコードテスト 微分非直線性誤差テスト(DNL) 積分非直線性誤差テスト(INL) スプリアス・ダイナミックレンジ(SFDR) ヒストグラム法 フォトダイオード特性テスト 読出し回路テスト 伝送線路測定 TDR計測 VNA 品質保証／統計 故障モデル バスタブカーブ特性 ホットキャリア 統計（テスト・評価） フラッシュメモリ不良問題（日経リンク／解説付き） ワイブル分布 故障解析 シュムー解析（温度･電圧影響） シュムー解析 解析技術 歩留まり 歩留まり、信頼性 車載 機能安全 信頼性 車載 機能安全系 ISO26262 機能安全問題（PDEA／解説付き） 信頼度 信頼度計算 ワード信頼度 システム信頼度 信頼性向上 ハードウェアトロイ回路 PUF 標準化技術 ゼロppm（日経リンク／解説付き） フリンジ問題 業務分類 大項目 小項目 サンプル問題 設計 デバイス 基板バイアス キャリア ＰＮ接合 逆バイアス バイポーラトランジスタの動作原理 PMOSトランジスタ スケーリング則 SoC MOSトランジスタの特性に関して 集積回路の劣化に関して 抵抗率（移動度） メモリ リードサイクル・ライトサイクル 光電変換デバイス （イメージャ） CCDイメージャ CMOSイメージャ 裏面照射型CMOSセンサ AD変換器 フラッシュ 逐次比較(SAR) パイプライン 積分型A/D変換器 高速I/F プリエンファシス デエンファシス アイパターン イコライゼーション パラレル転送とシリアル転送 CDR RF インピーダンスマッチング システム設計 ハードウェア・ソフトウェア協調設計 ハードウェア・ソフトウェア協調シミュレーション 設計行程 論理設計 論理合成 組合せ回路の機能表現 セットアップ時間とホールド時間 カウンタとレジスタ 同期式と非同期式 順序回路の機能表現 ラッチとフリップフロップ 演算回路 多数決回路 多数決回路問題 （日経リンク／解説付き） バイポーラトランジスタによる論理回路 ＣＭＯＳ論理回路 レイアウト設計 配線設計、配線設計 レイアウト検証、DRC 遅延モデル タイミング検証 低電力設計 クロックゲーティング 動的電圧周波数制御（DVFS） 低消費電力 低消費電力設計手法 テスト設計 テスト容易化設計（DFT) スキャン方式 圧縮パターン方式 組み合わせ回路のテストパターン （日経リンク／解説付き） スキャン方式 圧縮パターンテスト方式 テスト生成 テストパターン自動生成（ATPG） 故障シミュレーション 製造 ウェーハ製造 ウエハの製造方法 エピウエハ 素子・回路形成 前工程 シリコンウェハー 熱拡散 フォトエッチング 不純物拡散 テスト ウェーハテスト ファイナルテスト パッケージ ボンディング 裏面電極 モジュール接合部 デバイス製造 CCDデバイス CMOSデバイス 製造技術 RoHS指令 RoHS指令 テスト メモリテスト ギャロッピングテスト マーチングテスト ウォーキングテスト チェッカーボードテスト スキャンテスト １サイクルテスト テスト手法 テストエスケープとオーバーキル テスト装置 周辺装置コストの動向(プローバ、プローブカード、ハンドラ) 高速I/Fテスト BER アイパターン アナログテスト ボード線図 パワーデバイス 信号源、測定器 C-V測定 ゲート酸化膜リーク電流 製造テスト 生産ラインでの検査 アプリ対応 電源 DC-DCコンバータの形名 DC-DCコンバータの出力電圧とスイッチ電圧 DC-DCコンバータ DC-DCコンバータの用途 シリーズレギュレータとスイッチングレギュレータの比較 スイッチの耐圧 ノイズ対策 高周波化 スイッチング電源の特徴 用途別の安全規格 スナバー ハードスイッチングとソフトスイッチング ブラシレスDCモータ用インバータ ラインフィルタ回路 降圧形コンバータ 整流回路と力率改善 (Power Factor Correction ) 回路 電圧共振フライバック形コンバータ 電気・電子機器のEMC体系図 電流共振形コンバータ 同期整流回路 部品の役割 ディレーティング 品質保証／統計 故障モデル バスタブカーブ特性 ホットキャリアなど 対象故障モード 統計分布 熱暴走、サージ破壊 テスト バーンインテスト アダプティブテスト 故障検出率とすり抜け率 故障解析 解析装置 歩留まり 歩留まり、故障検出率 歩留まり計算 品質管理 QC七つ道具 FMEA FTA 特性要因図 パレート図、 散布図 ヒストグラム QFD 顧客要求品質 SPC チェックシート 層別 信頼性 車載 機能安全系 信頼性向上 side-channel attack マイグレーション コロージョン 保証電気特性 最大定格 選別（テスト）電圧 素子実耐圧
